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AR-EOS光纤电场测量系统

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AR-EOS光纤电场测量系统

AR‑EOS 电场测量系统 是航星瑞科推出的一款超宽带、高场强、小尺寸的电场测试分析一体化平台。系统采用全非金属微型传感器(尺寸仅 4mm×34.2mm),实现对电场的真实“点”测量,且对原场零扰动。单探头即可覆盖 6GHz / 18GHz / 40GHz 多个频段,动态范围 >120dB,灵敏度优于 80mV/m,最大测试场强超过300kV/m,损坏阈值高达10MV/m,从容应对强脉冲、强场干扰,无惧烧毁。
AR‑EOS 集成信号分析模块与自动化测量软件,支持多通道实时切换与数据采集,无需外接仪表即可独立完成复杂电磁环境评估。它尤其适用于 HIRF 标定、HPM 测试、ESD 分析、电路板级近场诊断、狭小空间电场分布测量,以及雷达近远场测试、高压输变电监测、等离子体干扰研究等场景,为系统级电磁兼容性(EMC)和电磁环境效应(E3)评估提供精准高效的解决方案。
AR-EOS电场测量系统 | 超宽带(10Hz-40GHz)非金属微型探头,高场强测试解决方案AR-EOS电场测量系统 | 非金属微型探头,超宽带高场强电场测试解决方案

复杂电场环境的"洞察之眼"

AR-EOS — 一体化、免校准的终极电场测量解决方案

真正的点测量 - 非金属微型探头,对电场零扰动
超宽频带覆盖 - 10Hz ~ 40GHz,一机全能
无畏强场环境 - 损坏阈值 >10 MV/m,无惧烧毁
灵活组合 - 支持1维、2维、3维及多点同步测量
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告别传统,开启电场测量新纪元

传统天线/金属探头
对电场有扰动,影响测量精度
尺寸大,无法实现真实"点"测量
易受电磁干扰,信号失真
高场强下易烧毁损坏
频带窄,需多台设备覆盖
AR-EOS 非金属微型探头
非金属材质,对电场零扰动
微型传感器,实现真实"点"测量
光纤传输,完全光隔离,抗干扰强
损坏阈值>10MV/m,无惧烧毁
超宽频带10Hz-40GHz,一机全能

结论:为HIRF、HPM、ESD、近场测量等极端复杂电磁环境而生的革命性解决方案

令人瞩目的性能参数

10Hz ~ 40GHz
超宽频带
>10 MV/m
超高损坏阈值
Φ5×35mm
微型探头尺寸
>120dB
超宽动态范围
<80mV/m
高灵敏度
>300kV/m
最大测试场强
1U立方体卫星
10×10×10cm
微型卫星
约 2000:1
AR-EOS传感器(实物体积参考M5*35mm螺丝)

深度解析:为何AR-EOS与众不同

真实的"点"测量

微型非金属探头(Φ5×35mm),实现物理意义上的精确点场测量,避免因传感器尺寸导致的测量误差。

电磁环境"无损还原"

光纤传输,完全光隔离,确保信号无失真、设备无干扰,真实还原复杂电磁环境。

矢量射频信号输出

不仅测量场强,更能准确还原信号特性,支持复杂时域波形分析。

极端环境适应性

损坏阈值>10MV/m,无惧强场环境,特别适用于HPM、ESD等极端电磁环境测试。

免校准设计

出厂即用,无需现场校准,大幅节省调试时间,提高测量效率。

灵活扩展性

支持多探头同步测量,轻松构建1维、2维、3维电场分布测试系统。

广泛的应用场景

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航空航天

适用于飞机和航空航天电子设备的高强度辐射场HIRF/HPM测试,确保航空航天电子设备在极端电磁环境下的可靠性。

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轨道交通

高铁/动车组等高压输变电环境监测,保障列车控制系统在复杂电磁环境下的稳定运行。

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科研战略

高功率微波、等离子体、静电分析,支持前沿科学研究与应用。

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电子研发

PCB板近场辐射、天线特征(远/近场)测量,助力电子产品EMC设计与优化。

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EMC测试

多点位实时监测,提供全面的电磁兼容性测试解决方案。

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极端环境

ESD(静电放电)测试、强场环境监测,满足极端电磁环境下的测量需求。

系统连接示意图

电场传感器

非金属微型探头

主机系统

信号处理与采集

控制与分析软件

实时数据可视化

开启精准电场测量新时代

AR-EOS电场测量系统,以其非金属微型探头、超宽带覆盖、高场强耐受等革命性特性,为复杂电磁环境测试提供前所未有的精准度和可靠性。突破传统测量手段局限,“看”到前所未有的“新”环境,AR-EOS都是您电场测量需求的最佳选择。